Análisis elemental

El Departamento de Ciencias de la tierra y planetarias en UC Santa Cruz mantiene un completo conjunto de herramientas con las que medir la composición elemental. 

La fluorescencia de rayos x (XRF) se utiliza para medir grandes, menor de edad y algunos elementos traza en sólidos a granel y en análisis micro sonda de electrones (EPMA) se utiliza para análisis espacial resuelto de estos elementos. Las mediciones de concentración de trazas y ultra trazas en sólidos y líquidos son realizado acoplado inductivamente espectrometría de masas (ICP-MS), ambos instrumentos de sector magnético de alta resolución y basados en el cuadrupolo. Además, a través del laboratorio del Instituto de Ciencias del mar en nuestro edificio, tenemos acceso a espectroscopia de emisión óptica acoplado inductivamente (ICPOES), espectrofotometría de absorción atómica, cromatografía iónica, cromatografía de gases y espectrometría de masas cromatografía de gas.

La espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente: En la primavera de 2009 una nueva instalación análisis de plasma fue establecida para reemplazar nuestros 15 años de edad 1 elemento (el primero de su clase en un laboratorio académico en los Estados Unidos). La nueva planta incluye un termo elemento XR (rango extendido) magnética sector alta resolución ICP-MS, un quadrupole de serie X ICP-MS, un fotón máquinas analito 193H sistema de láser excimer y Zygo NuevaVista elemento XR7200 Vertical exploración interferómetro (para inspección de pozos de ablación láser). En combinación con nuestra gama completa de sistemas de introducción de plasma (nebulizadores desolvating, sistema de inyección de flujo, las cámaras de nebulización Peltier refrescado, etc.), estamos equipados para medir la mayor parte de la tabla periódica, en una amplia gama de concentraciones en sólidos y líquidos de una amplia gama de composiciones. Un grupo de usuarios diversa incluye Marina químicos, geoquímicos de rocas ígneas, arqueólogos, químicos inorgánicos, geochronologists, toxicólogos ambientales y paleo-oceanógrafos, para nombrar unos pocos.

Análisis de fluorescencia de rayos x: En el invierno de 2006 se reemplazaron los antiguos Philips AXS (uno de los primeros espectrómetros de fluorescencia de rayos x automatizados) con un XRF muy ligeramente usado, estado-de-arte, donado por Quadra Mining. Utilizado por sólo seis meses en 1998 en la Robinson mina, Ely, NV y mothballed durante los próximos siete años, este PW2404 de Philips (ahora PANalytical) viene equipado con un generador de 4KW, un tubo de RhXRF de enfoque nítido final-ventana, un cambiador de muestras 96 automatizado y un complemento completo de filtros de tubo, análisis de cristales y detectores. Este sistema utiliza todos los métodos modernos de análisis espectrométrico y reducción de datos y es capaz de medir una amplia variedad de materiales, sólidos y líquidos, para mayor y concentraciones de elementos traza, cualitativa, semi-cuantitativamente y cuantitativamente. Ciencias de la tierra y planetarias en la UCSC ha estado realizando análisis XRF de la más alta calidad de 40 años, y con esta nueva instalación estamos equipados para continuar haciéndolo durante muchos años por venir.

Microanálisis por sonda de electrones: Nuestro ARL-SEMQ electrón fue adquirido en 1992 y actualizado para ejecutar en la interfaz de microhaz avanzado y software de sonda para Windows. El sistema cuenta con espectrómetros dispersivos en longitud de onda 9, seis fixedElectron sonda y tres análisis, que permite el análisis de elementos mayores y menores muy rápido de minerales de silicato comunes (tan rápido como 10 segundos por punto). La unidad está provista de EDS, así como secundarios, retrodispersados y proyección de imagen de cátodo luminiscencia. El software permite la asignación de rayos x, basado en la salida de los detectores de longitud de onda dispersiva y permite el análisis totalmente automatizado usando traz digital formas, transectos y puntos. Calidad de los datos de análisis elemental es muy alto debido al tiempo de análisis rápido y estabilidad excelente del filamento.